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如何正確選擇不同功能的掃描電鏡？掃描電鏡選型指南掃描電子顯微鏡廣泛應用于材料科學、生物學、納米技術(shù)、半導體制造等領(lǐng)域，為研究人員提供了觀察和分析微觀結(jié)構(gòu)和表面形貌的有效工具。針對不同領(lǐng)域和樣品需求，應該如何選擇不同功能的掃描電鏡呢？我們對已...

FIB制樣產(chǎn)生的非晶層如何修復？前面我們介紹了FIB制樣是透射電鏡中常用的制樣方法，但是使用離子束時可能會引起一些意想不到的樣品損傷，改變了樣品表面的特性，產(chǎn)生的非晶層或損傷層在使用FIB系統(tǒng)制備的TEM樣品中非常明顯，可能會影響到觀察結(jié)果...

TEM制樣方法中：FIB制樣的優(yōu)勢和缺陷01TEM制樣方法概述透射電子顯微鏡能夠精細地觀察樣品的結(jié)構(gòu)，甚至可以觀察到僅由一列原子構(gòu)成的結(jié)構(gòu)。其分辨率比光學顯微鏡高出許多，可達到0.1～0.2nm，放大倍數(shù)可達幾萬至百萬倍，使得我們能夠深入研...

顯微CT技術(shù)在電子設備的應用分享引言隨著技術(shù)的發(fā)展和不斷創(chuàng)新，電子設備的功能不斷增強，體積不斷縮小，對電子設備的制造技術(shù)也提出了更高要求。電子設備作為一個組裝好的裝置，內(nèi)部的電子元器件往往難以直接觀察或檢測。顯微CT技術(shù)能夠以非破壞性的方式...

納米氣溶膠沉積技術(shù)發(fā)展：閃電是由于云層電荷積累擊穿不導電的空氣，形成的強脈沖放電。其溫度從攝氏一萬七千度至二萬八千度不等，是太陽表面溫度的3～5倍。人類很早就注意到了這一現(xiàn)象，在20世紀處，便有科學家提出雷電是產(chǎn)生地球早期有機物質(zhì)的原因。在...

原位熱電樣品桿對樣品溫度和電壓都有很好地控制能力，可在900℃環(huán)境下實現(xiàn)高于300kV/cm的電場環(huán)境設置。本期我們分享北京理工大學科研團隊使用在透射電鏡中對樣品區(qū)施加電場，從而在原子尺度下進行了哪些研究。作者：北京理工大學黃厚兵等題目：I...

關(guān)于汽車清潔度：汽車行業(yè)中關(guān)于清潔部件的要求，最早由羅伯特·博世公司（RobertBosch）在1996年為了提高柴油汽車發(fā)動機共軌噴射系統(tǒng)的生產(chǎn)質(zhì)量而提出，他們在生產(chǎn)中發(fā)現(xiàn)小的噴嘴很容易被系統(tǒng)中殘留的污染顆粒物堵塞，于是提出了生產(chǎn)中清潔部...

原位加熱樣品桿中國用戶2023科研成果精選【下】今天分享的文獻分別來自中科院大連化物所、上海交通大學、武漢理工大學、中科院物理所、福州大學。我們一起來看一下，這些科學團隊使用原位加熱樣品桿在哪些領(lǐng)域里去的科研成果。挑選文獻截止于2023年1...